Sperrbereich vs. linearer Bereich vs. Sättigungsbereich des MOSFET: Bedingungen, Stromgleichungen und Einsatz
Ein MOSFET arbeitet in einem von drei Bereichen, die von der Gate-Source-Spannung VGS und der Drain-Source-Spannung VDS bestimmt werden. Im Sperrbereich liegt VGS unter der Schwellenspannung Vth, es bildet sich kein Kanal, und es fließt fast kein Strom. Im linearen Bereich (Triodenbereich) reicht der Kanal von Source bis Drain, und das Bauelement verhält sich wie ein Widerstand, dessen Wert die Gatespannung bestimmt. Im Sättigungsbereich ist der Kanal am Drainende abgeschnürt, daher bestimmt VGS den Strom, der von VDS kaum abhängt; das ist der Bereich für Verstärker und Stromquellen. Zu beachten ist, dass „Sättigung“ beim Bipolartransistor einen anderen Zustand bezeichnet, nämlich den eingeschalteten Zustand eines Schalters; dasselbe Wort bedeutet also Verschiedenes.
| Merkmal | Sperrbereich | Linearer Bereich (Triodenbereich) | Sättigungsbereich |
|---|---|---|---|
| Bedingung (nMOS) | VGS < Vth | VGS > Vth und VDS < VGS − Vth | VGS > Vth und VDS ≥ VGS − Vth |
| Zustand des Kanals | Keine Inversionsschicht (nur schwache Inversion) | Die Inversionsschicht reicht von Source bis Drain | Die Inversionsschicht verschwindet am Drainende (Abschnürung, Pinch-off) |
| Drainstrom (langer Kanal) | ID ≈ 0; tatsächlich steigt der Subthreshold-Strom exponentiell mit VGS | ID = μCox(W/L)[(VGS − Vth)VDS − VDS²/2] | ID = (1/2)μCox(W/L)(VGS − Vth)², mit Kanallängenmodulation multipliziert mit (1 + λVDS) |
| Stromverhalten | Aus. Die theoretische Untergrenze des Subthreshold-Swings liegt bei Raumtemperatur bei etwa 60 mV/Dekade | Bei kleinem VDS ist ID nahezu proportional zu VDS; die Steigung nimmt mit wachsendem VDS ab | ID hängt kaum von VDS ab und ist proportional zum Quadrat von (VGS − Vth) |
| Kleinsignalverhalten | Nahezu ein Leerlauf | Bei kleinem VDS ein Widerstand mit dem Einschaltwiderstand Ron ≈ 1/[μCox(W/L)(VGS − Vth)] | Eine spannungsgesteuerte Stromquelle mit der Steilheit gm = 2ID/(VGS − Vth) und dem Ausgangswiderstand ro ≈ 1/(λID) |
| Zahlenbeispiel (μCox(W/L) = 2 mA/V², Vth = 0,5 V) | Bei VGS = 0,3 V gesperrt (laut Gleichung ID = 0) | Bei VGS = 1,0 V und VDS = 0,1 V ist ID = 90 µA. Der Einschaltwiderstand bei VDS nahe 0 beträgt etwa 1 kΩ | Bei VGS = 1,0 V und VDS ≥ 0,5 V ist ID = 250 µA (mit λ = 0) und gm = 1 mS |
| Typischer Einsatz | Ausgeschalteter Schalter; der gesperrte Transistor in einem Digitalgatter | Eingeschalteter Schalter (der leitende Transistor in einem Digitalgatter, Analogschalter, ein leitender Leistungs-MOSFET), variabler Widerstand | Verstärker, Stromquellen, Stromspiegel |
| Entsprechender Bereich beim Bipolartransistor | Sperrbereich (gleicher Name) | Sättigungsbereich (Schalter ein) | Aktiver Bereich (zur Verstärkung) |
| Unterschiede bei kurzen Kanälen | DIBL senkt die Schwellenspannung und erhöht den Sperrstrom | Mobilitätsabnahme und parasitäre Widerstände machen den Strom kleiner als nach der Gleichung | Durch Geschwindigkeitssättigung sättigt der Strom schon bei kleinerem VDS, und die Abhängigkeit von (VGS − Vth) nähert sich der ersten Potenz |
Die Zahlenwerte sind typische Größenordnungen und variieren je nach Prozessgeneration und Produkt.