Région de blocage vs région linéaire vs région de saturation du MOSFET : conditions, équations du courant et usages
Un MOSFET fonctionne dans l’une de trois régions, fixées par la tension grille-source VGS et la tension drain-source VDS. Dans la région de blocage, VGS est inférieure à la tension de seuil Vth, aucun canal ne se forme et presque aucun courant ne circule. Dans la région linéaire (triode), le canal s’étend de la source au drain et le transistor se comporte comme une résistance dont la valeur est fixée par la tension de grille. Dans la région de saturation, le canal est pincé côté drain (pincement), si bien que le courant est fixé par VGS et dépend à peine de VDS ; c’est la région des amplificateurs et des sources de courant. Attention : la « saturation » d’un transistor bipolaire est un état différent, l’état fermé d’un interrupteur, si bien que le même mot désigne des choses différentes.
| Critère | Région de blocage | Région linéaire (triode) | Région de saturation |
|---|---|---|---|
| Condition (nMOS) | VGS < Vth | VGS > Vth et VDS < VGS − Vth | VGS > Vth et VDS ≥ VGS − Vth |
| État du canal | Pas de couche d’inversion (inversion faible seulement) | La couche d’inversion s’étend de la source au drain | La couche d’inversion disparaît côté drain (pincement) |
| Courant de drain (canal long) | ID ≈ 0 ; en réalité, le courant sous le seuil croît exponentiellement avec VGS | ID = μCox(W/L)[(VGS − Vth)VDS − VDS²/2] | ID = (1/2)μCox(W/L)(VGS − Vth)², multiplié par (1 + λVDS) avec la modulation de longueur de canal |
| Comportement du courant | Bloqué. La limite inférieure théorique de la pente sous le seuil est d’environ 60 mV/décade à température ambiante | Pour un faible VDS, ID est presque proportionnel à VDS ; la pente diminue quand VDS augmente | ID dépend à peine de VDS et est proportionnel au carré de (VGS − Vth) |
| Modèle petit signal | Presque un circuit ouvert | Pour un faible VDS, une résistance à l’état passant Ron ≈ 1/[μCox(W/L)(VGS − Vth)] | Une source de courant commandée en tension, de transconductance gm = 2ID/(VGS − Vth) et de résistance de sortie ro ≈ 1/(λID) |
| Exemple chiffré (μCox(W/L) = 2 mA/V², Vth = 0,5 V) | À VGS = 0,3 V, le transistor est bloqué (ID = 0 selon l’équation) | À VGS = 1,0 V et VDS = 0,1 V, ID = 90 µA. La résistance à l’état passant près de VDS = 0 vaut environ 1 kΩ | À VGS = 1,0 V et VDS ≥ 0,5 V, ID = 250 µA (avec λ = 0) et gm = 1 mS |
| Usages typiques | Un interrupteur à l’état ouvert ; le transistor bloqué d’une porte numérique | Un interrupteur à l’état fermé (le transistor passant d’une porte numérique, les interrupteurs analogiques, un MOSFET de puissance conducteur), une résistance variable | Amplificateurs, sources de courant, miroirs de courant |
| Région équivalente du BJT | Région de blocage (même nom) | Région de saturation (interrupteur fermé) | Région active directe (utilisée pour l’amplification) |
| Différences en canal court | Le DIBL abaisse la tension de seuil et augmente le courant à l’état bloqué | La dégradation de la mobilité et les résistances parasites rendent le courant plus faible que ne le prédit l’équation | La saturation de vitesse fait saturer le courant à un VDS plus faible, et la dépendance en (VGS − Vth) tend vers le premier ordre |
Les valeurs indiquées sont des ordres de grandeur typiques et varient selon la génération de procédé et le produit.