關於BIST（內建自我測試）的說明，下列何者正確？

正確答案：B. 將測試用的電路內建於晶片中，由晶片自行進行測試

BIST是在晶片中內建測試圖樣產生電路與結果判定電路，由晶片自行執行測試的機制。記憶體用的MBIST能高速產生March測試等圖樣，邏輯電路用的LBIST則使用偽隨機圖樣。除了能減少對昂貴測試機的依賴與測試時間之外，車用產品還有每次上電時，出貨後也能進行自我診斷的優點。