車用半導體與功能安全
在車用微控制器中,於電源開啟時或行駛前等時機執行邏輯BIST或記憶體BIST,功能安全上的主要目的是下列何者?
- A找出安全機制本身等在平時動作中不會顯現的潛伏故障,以提高潛伏故障指標(LFM)
- B省略製造工廠的出貨前測試,免除測試的費用
- C自動提高CPU的動作頻率,加快行駛中的處理
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正確答案:A. 找出安全機制本身等在平時動作中不會顯現的潛伏故障,以提高潛伏故障指標(LFM)
ECC的校正電路或比較電路等安全機制即使損壞,在平時的動作中也不會顯現,因此會作為潛伏故障殘留下來。若在電源開啟時以邏輯BIST或記憶體BIST檢查晶片自身的電路,便能在行駛前找出這類故障,提高LFM。BIST的執行需要時間,期間無法進行一般的處理,因此設計時也要考慮啟動時間的限制。它並不是用來取代出貨測試或用於加速的。
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