수율과 품질 관리 결함 밀도가 같은 조건에서 칩 면적을 키우면 수율은 일반적으로 어떻게 됩니까? A저하된다 B향상된다 C변하지 않는다 정답과 해설 보기 정답: A. 저하된다 포아송 모델에서 수율은 Y=exp(−D×A)(D: 결함 밀도, A: 칩 면적)로 나타냅니다. 결함이 무작위로 떨어질 때 면적이 클수록 칩에 결함이 1개 이상 포함될 확률이 높아지므로 수율은 지수함수적으로 떨어집니다. 큰 칩을 여러 개의 작은 칩으로 나누는 칩렛이 주목받는 이유 중 하나이며, 작은 칩은 양품만 골라 조합할 수 있습니다. 칩 면적과 수율(결함 위치는 동일) 작은 칩 ,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,, ,,,,,,,,,,, 큰 칩 ,,, ,,,,,,,,,,, 양품 18 / 24(75%) 양품 1 / 4(25%) 결함 결함이 있는 불량 칩 칩 면적과 수율(결함 위치는 동일) · 도해에서 보기