測試與檢查
因測試的判定過於嚴格或量測不穩定，而將原本是良品的晶片判定為不良並丟棄，稱為什麼？
- A保護頻帶（guard band）
- B過殺（overkill，過度的不良判定）
- C測試逃逸（test escape）
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正確答案：B. 過殺（overkill，過度的不良判定）
過殺是指將良品判定為不良，不必要地降低良率並增加成本。原因包括過於嚴格的判定值、探針的接觸不良、測試機的雜訊等。相反地，將不良品當作良品放行的是測試逃逸，會導致市場上的不良。應觀察重測的結果與資料的分布，決定測試條件以取得兩者的平衡。
- A. 保護頻帶是考慮誤差而設定得比規格更嚴格的判定值餘裕。
- B. 正確。是將良品判定為不良。
- C. 測試逃逸是漏掉不良品而判定為良品。