測試與檢查
在邏輯電路的測試中,使用掃描等方式全面偵測電路結構上的故障(固定型故障等)的測試,與依實際運作確認功能的測試,其名稱的組合下列何者正確?
- ADC測試與AC測試
- B晶圓測試與burn-in
- C結構性測試(structural test)與功能性測試(functional test)
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正確答案:C. 結構性測試(structural test)與功能性測試(functional test)
結構性測試是針對電路的結構建立故障模型,使用掃描等方式有效率地偵測各部分故障的測試,可以數值管理故障涵蓋率。功能性測試則是施加接近實際使用方式的輸入,確認是否依規格運作的測試。前者擅長全面性,後者擅長在接近實際使用的條件下確認,兩者搭配以確保品質。
- A. DC測試與AC測試是直流特性與時序等交流特性的測試。
- B. 晶圓測試與burn-in是依測試時期與種類的區分。
- C. 正確。是基於結構的測試與基於功能的測試。