測試與檢查
在記憶體測試中，製作記錄了哪個位址的哪個位元不良的圖，其主要目的為下列何者？
- A為了增加記憶體的容量
- B為了決定晶片的顏色
- C為了依據不良的位置，以冗餘的行、列進行替換修復，同時也用於分析不良的原因
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正確答案：C. 為了依據不良的位置，以冗餘的行、列進行替換修復，同時也用於分析不良的原因
失效位元圖（fail bit map）是將不良位元的位置對應位址而呈現的圖。它用於將不良的行或列替換為備用行、列的冗餘修復計算，修復則以雷射或電氣方式熔斷熔絲來進行。從不良的排列方式（單一位元、整行、整列、成團塊等），也有助於推測微粒或配線短路等製造製程缺陷的種類。
- A. 記錄不良並不會增加容量。
- B. 與顏色無關。
- C. 正確。用於修復與不良分析。