矽光子

在將光學元件與交換器IC等組裝進1個封裝的CPO中,於組裝前以晶圓狀態檢測光學特性特別重要的理由為何?

  1. A因為光學元件從晶圓切出後就不再透光,在晶片狀態下無法量測特性
  2. B因為只要在晶圓狀態下檢測,組裝後的最終檢測就完全不需要
  3. C因為組裝後才發現不良,會連同昂貴的交換器IC等良品元件一起浪費
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正確答案:C. 因為組裝後才發現不良,會連同昂貴的交換器IC等良品元件一起浪費

將多顆晶片組裝進1個封裝時,只要混入1顆不良品,整體就成為不良品,昂貴的交換器IC與其他良品元件也會浪費。因此,只使用組裝前已確認為良品的晶片(KGD:Known Good Die)很重要。矽光晶片利用光柵耦合器,從晶圓上方以光纖探針導入光,並結合電探針,自動量測波導損耗、調變器與光偵測器的特性等。不過,組裝後的最終檢測仍不可或缺。

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