MOSFET

關於MOSFET的LDD(Lightly Doped Drain,輕摻雜汲極)結構的目的,下列何者正確?

  1. A降低閘極電極的電阻
  2. B降低汲極端的雜質濃度以緩和電場,抑制熱載子造成的劣化
  3. C使通道遷移率加倍
查看答案與解析

正確答案:B. 降低汲極端的雜質濃度以緩和電場,抑制熱載子造成的劣化

在汲極附近電場很強,具有高能量的熱載子會被注入閘極絕緣膜或產生界面態,造成臨界電壓變動與電流下降。LDD結構利用閘極側壁(間隔物),在汲極的通道側形成低濃度的淺區域,降低峰值電場以抑制劣化。現在主流是同時兼具抑制短通道效應的延伸區(高濃度淺接面)。

練習這個領域 前往領域頁面

MOSFET的其他題目

  1. 在飽和區的MOSFET中,提高汲極電壓會使有效通道長度變短,汲極電流略微增加,這個現象稱為什麼?
  2. 關於MOSFET的轉導gm的定義,下列何者正確?
  3. 在p型基板的MOS結構中,對閘極施加負電壓時,半導體表面的狀態為下列何者?
  4. 為了使CMOS反相器的邏輯臨界電壓約為電源電壓的一半,下列何種設計是正確的?
  5. 關於將nMOS與pMOS並聯的傳輸閘(transmission gate)的優點,下列何者正確?

這個領域的比較