薄膜沉積(CVD與PVD)

作為半導體製造中所處理薄膜厚度的標準,下列何者最適當?

  1. A數nm~數µm左右
  2. B數mm~數cm左右
  3. C數m左右
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正確答案:A. 數nm~數µm左右

LSI製造中所沉積的薄膜,從閘極絕緣膜般的數nm(數十個原子的厚度),到配線或層間絕緣膜般的數百nm~數µm左右都有。1 nm為10⁻⁹ m,1 µm為10⁻⁶ m,與頭髮的粗細(約80 µm)相比,是薄上好幾個數量級的薄膜。最薄的薄膜僅有數層原子,在ALD等製程中要求±0.1 nm左右的精度。

  • A. 正確。是數nm~數µm左右的薄膜。
  • B. 數mm以上比晶圓還厚,不是薄膜。
  • C. 數m是製造裝置大小的數量級。
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