CMP與清洗

將剛完成CMP的晶圓在不使其乾燥、保持濕潤的狀態下搬運至清洗步驟被視為重要,其原因為下列何者?

  1. A為了維持晶圓的重量
  2. B為了冷卻晶圓
  3. C因為殘留在表面的研磨液粒子或藥液一旦乾燥固著,之後的清洗就難以去除
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正確答案:C. 因為殘留在表面的研磨液粒子或藥液一旦乾燥固著,之後的清洗就難以去除

研磨後的表面殘留著研磨液的粒子與反應生成物。一旦乾燥,粒子與表面之間會產生化學鍵結而牢牢固著,清洗時難以去除而成為缺陷。此外,銅表面在乾燥過程中容易腐蝕。因此將CMP設備與清洗部整合,讓晶圓保持濕潤狀態連續處理至清洗、乾燥的「乾進乾出(dry-in dry-out)」設備構成已成為標準。

  • A. 並非為了維持重量。
  • B. 目的不是冷卻。
  • C. 正確。乾燥後粒子固著,難以去除。
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