CMP與清洗

下列關於LSI整體製造步驟中清洗步驟次數的說明,何者正確?

  1. A只在最後進行1次
  2. B在許多步驟前後反覆進行,是所有步驟中次數特別多的步驟之一
  3. C只在最初進行1次
查看答案與解析

正確答案:B. 在許多步驟前後反覆進行,是所有步驟中次數特別多的步驟之一

清洗在沉積、蝕刻、離子佈植、CMP、灰化等步驟的前後反覆進行,在先進的LSI中可達200次以上,據說佔全部步驟的兩到三成。以步驟數而言在整體中特別多,藥液與超純水的使用量也大,因此是對良率與成本都有很大影響的基本步驟。

  • A. 只在最後清洗,無法去除中途步驟的汙染。
  • B. 正確。在步驟前後反覆進行多次。
  • C. 只清洗1次,無法去除各步驟產生的汙染。
練習這個領域 前往領域頁面

CMP與清洗的其他題目

  1. 下列關於清洗所要去除之晶圓表面汙染種類的組合,何者正確?
  2. 在多層配線等步驟中,必須以CMP使晶圓表面平坦的主要原因為下列何者?
  3. 下列關於CMP設備基本構成的敘述,何者正確?
  4. 在Cu配線的CMP中,一般將研磨分成數個階段進行的原因,下列何者正確?
  5. 下列關於CMP研磨墊中硬墊與軟墊一般特徵差異的敘述,何者正確?