신뢰성

pMOS 트랜지스터에 음의 게이트 전압과 고온이 계속 가해지면 문턱 전압의 절댓값이 서서히 증가하는 열화 현상은?

  1. ANBTI
  2. B일렉트로마이그레이션
  3. CESD
정답과 해설 보기

정답: A. NBTI

NBTI(Negative Bias Temperature Instability)는 pMOS에 음의 게이트 바이어스와 고온이 가해지면 Si/SiO2 계면의 Si-H 결합이 끊어져 계면 준위가 늘어나고 절연막 속에도 양전하가 쌓여 문턱 전압의 절댓값이 커지는 열화입니다. 회로의 동작 속도가 해마다 서서히 느려지므로, 설계 시 열화분의 여유를 반영합니다. 스트레스를 제거하면 일부가 회복되는 것도 특징입니다.

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