配線プロセス

電解めっきで形成したCu膜が、室温で放置するだけでも時間とともに結晶粒が大きくなり、抵抗率が下がる現象を何と呼ぶか。

  1. Aエレクトロマイグレーション
  2. Bストレスマイグレーション
  3. Cセルフアニール(自己焼鈍)
答えと解説を見る

正解:C. セルフアニール(自己焼鈍)

めっき直後のCu膜は結晶粒が小さく不安定で、室温でも数時間〜数日の間に再結晶して粒が大きくなり、抵抗率が下がります。これをセルフアニールといいます。特性を安定させるため、めっき後に熱処理を行ってからCMPに進むのが一般的です。

  • A. エレクトロマイグレーションは電流による原子の移動です。
  • B. ストレスマイグレーションは応力による原子の移動でボイドができる現象です。
  • C. 正しい。室温で再結晶が進む現象です。
この分野を解く 分野ページへ

配線プロセスのほかの問題

  1. 配線の上下をつなぐビアを、可能な場所では1個でなく2個以上並べて配置する設計上の工夫の主な目的はどれか。
  2. トランジスタ(FEOL側)と多層配線をつなぐ、コンタクトや局所的な配線の部分を指して使われる言葉はどれか。
  3. 微細化が進んだ多層配線で、ビアの抵抗が問題になってきた主な理由として正しいものはどれか。
  4. ある配線の容量について、正しい説明はどれか。
  5. 配線の幅を変えずに厚さ(高さ)を大きくしたときの影響として正しいものはどれか。