Automobilhalbleiter und Funktionale Sicherheit
Was ist der Hauptgrund, warum bei der Qualifikation von Kfz-ICs anstelle des Temperatur-Feuchte-Bias-Tests (THB) bei 85 °C und 85 % RH über 1000 Stunden mitunter HAST (Test mit Bias in unter Druck stehendem Wasserdampf bei etwa 130 °C und 85 % RH) verwendet wird?
- AWeil Ausfälle wie Korrosion durch eindringende Feuchtigkeit beschleunigt werden und sich ein 1000-Stunden-Test auf etwa 100 Stunden verkürzen lässt
- BWeil sich statt feuchtigkeitsbedingter Ausfälle Soft Errors durch kosmische Strahlung bewerten lassen
- CWeil bei höherer Temperatur die Feuchtigkeit entweicht und sich so die Lebensdauer im trockenen Zustand bewerten lässt
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Antwort: A. Weil Ausfälle wie Korrosion durch eindringende Feuchtigkeit beschleunigt werden und sich ein 1000-Stunden-Test auf etwa 100 Stunden verkürzen lässt
HAST (Highly Accelerated Stress Test) ist ein Verfahren, bei dem bei Temperaturen über 100 °C unter Druck und bei hoher Luftfeuchte geprüft wird. Durch höhere Temperatur und höheren Wasserdampfdruck gelangt Feuchtigkeit schneller durch die Kunststoffmasse des Gehäuses zum Chip, sodass Elektrodenkorrosion, ein Anstieg der Leckströme u. Ä. beschleunigt werden. Üblicherweise entsprechen z. B. etwa 96 Stunden bei 130 °C und 85 % RH einer Bewertung über 1000 Stunden bei 85 °C und 85 % RH. Mit Soft Errors oder dem trockenen Zustand hat das nichts zu tun.
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