Halfgeleiders voor auto's en functionele veiligheid
Wat is de belangrijkste reden dat bij kwalificatietests van IC's voor auto's in plaats van de temperatuur-vochtigheid-biastest (THB), die 1000 uur bij 85 °C/85%RH wordt uitgevoerd, soms HAST (een test waarbij in waterdamp onder druk bij circa 130 °C/85%RH een bias wordt aangelegd) wordt gebruikt?
- ADefecten zoals corrosie door binnendringend vocht worden versneld, waardoor een test van 1000 uur kan worden ingekort tot circa 100 uur
- BOmdat dan niet defecten door vocht, maar soft errors door kosmische straling kunnen worden beoordeeld
- COmdat bij hogere temperatuur het vocht verdwijnt, zodat de levensduur in droge toestand kan worden beoordeeld
Antwoord en toelichting tonen
Antwoord: A. Defecten zoals corrosie door binnendringend vocht worden versneld, waardoor een test van 1000 uur kan worden ingekort tot circa 100 uur
HAST (Highly Accelerated Stress Test) is een methode waarbij bij temperaturen boven 100 °C druk wordt aangelegd en onder behoud van een hoge vochtigheid wordt getest. Door temperatuur en waterdampspanning te verhogen bereikt vocht sneller via de kunststof van de behuizing de chip, zodat corrosie van elektroden, toename van lekstroom enzovoort kunnen worden versneld. Zo is het gebruikelijk om bij 130 °C/85%RH in circa 96 uur een beoordeling uit te voeren die overeenkomt met 1000 uur bij 85 °C/85%RH. Het heeft niets te maken met de beoordeling van soft errors of van een droge toestand.
Verder: nog 9 vragen over Halfgeleiders voor auto's en functionele veiligheid