Was ist Fehlerabdeckung (Fault Coverage)?

Der Anteil der modellierten Fehler, die ein Satz von Testmustern erkennen kann. Je höher sie ist, desto unwahrscheinlicher entkommen fehlerhafte Chips.

Japanische Bezeichnung: 故障検出率(フォールトカバレッジ)

Fachgebiet: Test und Inspektion

Verwandte Begriffe

ATE (automatische Testausrüstung, automatic test equipment) ATPG (automatische Testmustererzeugung) BIST (integrierter Selbsttest) Burn-in (Voralterung) DFT (testgerechter Entwurf) IDDQ-Test KGD (Known Good Die) Nadelkarte (probe card) Scan-Test (scan test) Stuck-at-Fehler

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