CMP en reiniging

Welk probleem is bekend dat gemakkelijk optreedt als na reiniging met SPM (zwavelzuur en waterstofperoxide) onvoldoende wordt gespoeld?

  1. AZwavelzuurionen enz. blijven op het oppervlak achter en veroorzaken later waas (haze) en defecten
  2. BDe wafer wordt dikker
  3. CHet oppervlak wordt n-type
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. Zwavelzuurionen enz. blijven op het oppervlak achter en veroorzaken later waas (haze) en defecten

Zwavelzuur is viskeus en adsorbeert gemakkelijk aan het oppervlak, zodat bij onvoldoende spoelen sulfaationen achterblijven en met bijvoorbeeld ammoniak in de lucht reageren, waarbij microkristallen van ammoniumsulfaat neerslaan en waas (haze) en defecten ontstaan. Bij belichtingsmaskers leidde dit ook tot groeiende defecten (haze) die de transmissie verlagen. Daarom wordt met warm water grondig gespoeld of vervangen door reiniging zonder zwavelzuur.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over CMP en reiniging

  1. Welke polijstmethode, onderzocht voor toepassingen waar mechanische kracht klein moet zijn, vlakt metaal af door elektrochemisch oplossen te combineren?
  2. Welke uitspraak over CMP (chemisch-mechanisch polijsten) is juist?
  3. Wat is het belangrijkste doel van SC-1 (mengsel van ammonia en waterstofperoxide) dat bij RCA-reiniging wordt gebruikt?
  4. Welke uitspraak over "dishing" bij CMP is juist?
  5. Wat is het belangrijkste doel van reiniging met verdund fluorwaterstofzuur (DHF)?