CMP en reiniging

Wat is de belangrijkste reden dat in processen zoals multilaag-metallisatie het waferoppervlak met CMP vlak moet worden gemaakt?

  1. AOm het oppervlak te laten glanzen en er mooi uit te laten zien
  2. BOmdat bij achterblijvende ongelijkheden bij de volgende belichting delen onscherp worden en de bewerking van lagen moeilijker wordt
  3. COm de wafer zwaarder te maken
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Omdat bij achterblijvende ongelijkheden bij de volgende belichting delen onscherp worden en de bewerking van lagen moeilijker wordt

Naarmate er meer lagen worden gestapeld, ontstaan ongelijkheden in het oppervlak, en omdat de scherptediepte bij geavanceerde belichting slechts circa 100 nm bedraagt, kunnen patronen bij hoogteverschillen daarboven niet nauwkeurig worden afgebeeld. Bij hoogteverschillen wordt bij depositie ook de film op de stap dunner en blijven bij het etsen resten achter. Doordat CMP het oppervlak vlak maakt, kunnen meer dan 10 bedradingslagen worden gestapeld en zijn bedradingsdichtheid en prestaties sterk verbeterd.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over CMP en reiniging

  1. Welke beschrijving van de basisopbouw van een CMP-apparaat is juist?
  2. Welke reden om bij Cu-bedrading-CMP het polijsten gewoonlijk in meerdere stappen uit te voeren is juist?
  3. Welk verschil tussen harde en zachte pads bij CMP is in het algemeen juist?
  4. Welke toestand is juist voor een siliciumoppervlak dat als laatste met verdund fluorwaterstofzuur is gereinigd?
  5. Wat is het belangrijkste doel van een filter in de leiding waarmee slurry aan het polijstapparaat wordt toegevoerd?