Was ist Stuck-at-Fehler?
Das grundlegende Fehlermodell beim Logiktest, das annimmt, dass eine Signalleitung fest auf 0 oder 1 hängt.
Japanische Bezeichnung: 縮退故障
Fachgebiet: Test und Inspektion
Verwandte Begriffe
ATE (automatische Testausrüstung, automatic test equipment) ATPG (automatische Testmustererzeugung) BIST (integrierter Selbsttest) Burn-in (Voralterung) DFT (testgerechter Entwurf) Fehlerabdeckung (Fault Coverage) IDDQ-Test KGD (Known Good Die) Nadelkarte (probe card) Scan-Test (scan test)