Welche Kombination gibt richtig an, unter welchen Corner-Bedingungen Setup und Hold in der STA jeweils hauptsächlich geprüft werden?

Antwort: B. Setup in der langsamen Corner (langsame Transistoren, niedrige Versorgungsspannung), Hold in der schnellen Corner (schnelle Transistoren, hohe Versorgungsspannung)

Setup-Verletzungen treten auf, wenn die Daten zu langsam sind; der ungünstigste Fall ist daher die langsame Corner mit der größten Verzögerung. Hold-Verletzungen treten auf, wenn die Daten zu schnell sind; der ungünstigste Fall ist die schnelle Corner mit der kleinsten Verzögerung. In der Praxis ändert sich gleichzeitig auch die Verzögerung des Taktpfads, daher werden beide Prüfungen in mehreren Corners durchgeführt. In modernen Prozessen kann eine Temperaturinversion auftreten, bei der niedrige Temperatur langsamer ist; auch bei der Wahl der Temperatur ist daher Vorsicht geboten. Mit typ allein lässt sich die Streuung in der Serienfertigung nicht abdecken.