테스트와 검사

스캔 테스트의 데이터량과 테스트 시간을 줄이기 위해 칩 안에서 테스트 패턴을 전개하고 응답을 압축하는 기술을 무엇이라고 부릅니까?

  1. A테스트 압축(스캔 압축)
  2. B번인
  3. CIDDQ 테스트
정답과 해설 보기

정답: A. 테스트 압축(스캔 압축)

대규모 LSI에서는 스캔 테스트의 패턴량이 방대해져 테스터의 메모리와 테스트 시간이 문제가 됩니다. 테스트 압축에서는 적은 입력 데이터를 칩 내의 전개 회로에서 다수의 짧은 스캔 체인으로 분배하고, 출력도 압축 회로로 모아서 비교합니다. 패턴의 대부분 비트는 어느 쪽 값이어도 상관없는 값이므로, 데이터량과 테스트 시간을 수십 분의 1 이하로 줄일 수 있습니다.

이 분야 연습하기 분야로 돌아가기

테스트와 검사의 다른 문제

  1. 실제 동작 주파수로 테스트를 하여, 신호가 전달되는 속도가 너무 느린 불량을 검출하는 테스트를 무엇이라고 부릅니까?
  2. 테스트 결과에 기반하여 동작 속도나 소비 전력 등 성능별로 제품을 분류하는 것을 무엇이라고 부릅니까?
  3. 테스트에서 측정 오차나 경시 변화를 고려하여 제품의 규격보다 조금 엄격한 판정값을 두는 것을 무엇이라고 부릅니까?
  4. 테스트 프로그램 개발에서 테스트 비용을 낮추기 위해 중시되는 것으로 올바른 것은?
  5. 웨이퍼 테스트에서 불량으로 판정한 칩의 정보를 뒤 조립 공정에서 사용하는 방법으로 현재 일반적인 것은?