以實際的運作頻率進行測試，偵測訊號傳遞速度過慢之不良的測試稱為什麼？

正確答案：C. 實速（at-speed）測試

在微細的LSI中，即使邏輯上正確運作，因些微缺陷而使訊號傳遞時間變長的延遲不良也成為問題。在at-speed測試中，以掃描設定值之後，從晶片內的PLL連續給予兩次實際運作頻率的時脈，檢查訊號的變化是否在一個週期內到達。所使用的是依據轉態故障（transition fault）等延遲故障模型的圖樣。