半導體物性

從霍爾效應的量測中可以得知什麼?

  1. A載子的種類(電子或電洞)與載子濃度
  2. B能隙的大小
  3. C晶體的熔點
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正確答案:A. 載子的種類(電子或電洞)與載子濃度

對通有電流的試片垂直施加磁場時,載子會因勞侖茲力偏向一側,在橫向產生霍爾電壓。由電壓的正負號可知載子是電子還是電洞,由大小(V_H = IB/qnt)可知載子濃度。與電阻率組合後還能求出遷移率(μ = 1/qnρ),並與范德堡法結合,廣泛用於薄膜的評估。能隙是以光吸收等方式,熔點則以熱分析來檢測。

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