MOSFET

對MOSFET的閘極-源極間施加遠超過額定的電壓時,可能發生下列何種損壞?

  1. A閘極絕緣膜的絕緣崩潰
  2. B電致遷移
  3. C軟錯誤
查看答案與解析

正確答案:A. 閘極絕緣膜的絕緣崩潰

先進產品的閘極絕緣膜厚度僅數nm,非常薄,SiO2的絕緣崩潰電場約為10 MV/cm,因此2 nm的話計算上數V就會損壞。一旦損壞,閘極與通道之間會短路,電晶體便無法使用。靜電(數kV)也很容易造成,因此IC的輸入輸出會加入ESD保護電路,功率MOSFET的閘極耐壓也約為±20 V。即使在額定內,長時間施加電壓而劣化的TDDB也是可靠度上的課題。

練習這個領域 前往領域頁面

MOSFET的其他題目

  1. MOSFET通道的遷移率小於矽晶體內部的遷移率,其主要原因為下列何者?
  2. 在短通道MOSFET中,汲極電流小於(VGS − Vth)的平方律,轉而呈現接近一次方的相依性,其主要原因為下列何者?
  3. 下列何者是大致表示CMOS邏輯閘延遲時間的適當公式?(C:負載電容,V:電源電壓,I:驅動電流)
  4. 增強型p通道MOSFET的臨界電壓(以源極為基準)的正負號為下列何者?
  5. 從放大電路的輸入側來看,閘極-汲極間的電容看起來被放大為(1 + 增益)倍,這種效應稱為什麼?

這個領域的比較