磊晶成長
在nMOS的源極・汲極中,以磊晶成長方式嵌入在矽中加入少量碳的Si:C,其主要目的為下列何者?
- A降低閘極電容
- B對通道施加壓縮應變以提高電洞遷移率
- C以晶格常數較小的Si:C對通道施加拉伸應變,提高電子遷移率
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正確答案:C. 以晶格常數較小的Si:C對通道施加拉伸應變,提高電子遷移率
碳原子比矽小,因此加入1~2%碳的Si:C,其晶格常數比矽小。將它嵌入nMOS的源極・汲極後,中間的通道會被拉伸而產生拉伸應變,使電子遷移率提高。不過碳不易進入晶格位置,且在高溫下容易逸出,因此實用上受到限制,現在以含高濃度磷的SiP磊晶層為主流。pMOS則相反,使用SiGe。
- A. 目的不是降低閘極電容。
- B. 以壓縮應變提高電洞遷移率,是pMOS中SiGe的角色。
- C. 正確。以拉伸應變提高電子遷移率。