SRAM・フラッシュメモリ

SRAMセルの安定性を表す静的雑音余裕(SNM)の説明として正しいものはどれか。

  1. Aセルが保持状態を反転させずに耐えられる雑音電圧の大きさで、バタフライ曲線から求める
  2. Bセルの消費電流
  3. Cセルの読み出しにかかる時間
答えと解説を見る

正解:A. セルが保持状態を反転させずに耐えられる雑音電圧の大きさで、バタフライ曲線から求める

SNMは、SRAMセルを構成する2つのインバータの入出力特性を重ねたバタフライ曲線の、内側に入る最大の正方形の一辺で表されます。これが大きいほど雑音に強く、データが反転しにくいセルです。読み出し時はアクセストランジスタの影響でSNMが小さくなります。

  • A. 正しい。バタフライ曲線から求める雑音余裕です。
  • B. 消費電流はSNMとは別の特性です。
  • C. 読み出し時間はアクセス時間で、SNMではありません。
この分野を解く 分野ページへ

SRAM・フラッシュメモリのほかの問題

  1. SLC型のNANDフラッシュメモリの書き換え可能回数の目安として最も近いものはどれか。
  2. NANDフラッシュの「不良ブロック管理」の説明として正しいものはどれか。
  3. SSDの「オーバープロビジョニング」の説明として正しいものはどれか。
  4. SSDの「書き込み増幅(ライトアンプリフィケーション)」の説明として正しいものはどれか。
  5. NAND型フラッシュメモリで、データの読み出しと書き込み(プログラム)を行う基本的な単位はどれか。