信頼性
温度サイクル試験で主に評価する故障はどれか。
- A宇宙線によるソフトエラー
- B材料の熱膨張係数の違いによる、はんだ接合部やパッケージのクラック
- CDRAMのリフレッシュ不良
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正解:B. 材料の熱膨張係数の違いによる、はんだ接合部やパッケージのクラック
温度サイクル試験では、高温と低温を繰り返し加えます。チップ、基板、封止樹脂、はんだなどの熱膨張係数が異なるため、温度変化のたびにひずみが生じ、はんだ接合部の疲労破壊やパッケージのクラック、剥離などが起こります。これらの耐性を評価する試験です。