Testen en inspectie

Wat is het belangrijkste doel van het maken van een kaart waarin wordt vastgelegd welke bit op welk adres bij een geheugentest defect was?

  1. ADe geheugencapaciteit vergroten
  2. BDe kleur van de chip bepalen
  3. COp basis van de positie van defecten een reparatie uitvoeren door te vervangen met redundante rijen en kolommen, en de kaart ook gebruiken voor het analyseren van de oorzaak van defecten
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: C. Op basis van de positie van defecten een reparatie uitvoeren door te vervangen met redundante rijen en kolommen, en de kaart ook gebruiken voor het analyseren van de oorzaak van defecten

Een fail bitmap geeft de posities van defecte bits weer in relatie tot de adressen. Hij wordt gebruikt voor de berekening van redundantiereparatie, waarbij defecte rijen of kolommen worden vervangen door reserverijen of -kolommen; de reparatie gebeurt door zekeringen met laser of elektrisch door te branden. Uit het patroon van de defecten (enkele bits, gehele rijen, gehele kolommen, clusters enzovoort) kan ook het type defect in het productieproces worden afgeleid, zoals deeltjes of kortsluiting van bedrading.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Testen en inspectie

  1. Waarom is bij compressie van de uitgangen van de scantest het verwijderen van signalen waarvan de waarde in de simulatie niet als 0 of 1 vaststaat (onbekende waarde X) noodzakelijk?
  2. Welke methode wordt bij de test van snelle seriële communicatie-interfaces gebruikt om de uitgang van de zendschakeling van de chip terug te koppelen naar de ontvangstschakeling, zodat de chip de communicatie zelf controleert?
  3. Hoe heet de methode waarbij op basis van tussentijdse resultaten en statistieken van onder meer de wafertest per chip en per lot de testitems en beoordelingswaarden dynamisch worden gewijzigd?
  4. Wat is het belangrijkste doel van het toepassen van een langzaam veranderend sinussignaal en dergelijke bij de test van een AD-omzetter en het tellen van hoe vaak elke uitgangscode voorkomt (histogram)?
  5. Hoe heet het proces waarbij uit de informatie over op welke uitgang en bij welk patroon een afwijking optrad bij een chip die de scantest niet haalde, logisch een kandidaatlijst van de waarschijnlijke foutlocaties wordt afgeleid?

Vergelijkingen bij dit onderwerp