Nederlands
Menu

Testen en inspectie

Welke methode wordt bij de test van snelle seriële communicatie-interfaces gebruikt om de uitgang van de zendschakeling van de chip terug te koppelen naar de ontvangstschakeling, zodat de chip de communicatie zelf controleert?

  1. AIDDQ-test
  2. BBurn-in
  3. CLoopback-test
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: C. Loopback-test

Snelle SerDes-schakelingen van tientallen Gb/s rechtstreeks met alleen een tester meten is moeilijk en duur. Bij de loopback-test geeft de zendschakeling pseudowillekeurige data af, die naar de ontvangstschakeling wordt teruggevoerd, en worden de bitfouten door een schakeling in de chip geteld. Er zijn een methode waarbij binnen de chip wordt teruggekoppeld en een methode waarbij via bedrading op het loadboard extern wordt teruggekoppeld; hiermee kunnen snelle interfaces efficiënt met een universele tester worden getest.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Testen en inspectie

  1. Hoe heet de methode waarbij op basis van tussentijdse resultaten en statistieken van onder meer de wafertest per chip en per lot de testitems en beoordelingswaarden dynamisch worden gewijzigd?
  2. Wat is het belangrijkste doel van het toepassen van een langzaam veranderend sinussignaal en dergelijke bij de test van een AD-omzetter en het tellen van hoe vaak elke uitgangscode voorkomt (histogram)?
  3. Hoe heet het proces waarbij uit de informatie over op welke uitgang en bij welk patroon een afwijking optrad bij een chip die de scantest niet haalde, logisch een kandidaatlijst van de waarschijnlijke foutlocaties wordt afgeleid?
  4. Welke methode genereert testpatronen door defecten zoals kortsluiting en onderbreking van transistoren binnen een standaardcel te modelleren op basis van de schakeling van de cel?
  5. Welke beschrijving van de wafertest (probetest) is juist?

Vergelijkingen bij dit onderwerp