Testen en inspectie

Wat is het belangrijkste doel van het toepassen van een langzaam veranderend sinussignaal en dergelijke bij de test van een AD-omzetter en het tellen van hoe vaak elke uitgangscode voorkomt (histogram)?

  1. AHet gewicht van de chip meten
  2. BDe lineariteit, zoals DNL en INL, bepalen
  3. CHet stroomverbruik meten
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. De lineariteit, zoals DNL en INL, bepalen

Als een signaal met een bekende verdeling op een ideale ADC wordt aangelegd, volgt het aantal keren dat elke code voorkomt een berekenbare verdeling. Uit de afwijking van het werkelijke aantal wordt de breedte van elke code, dus de DNL, bepaald, en door die op te tellen de INL. Dit heet de histogrammethode. Omdat een sinus bij de toppen vaker voorkomt, wordt gecorrigeerd met de theoretische verdeling; bij een driehoek- of rampsignaal is de verdeling vrijwel gelijkmatig. Het stroomverbruik wordt uit de voedingsstroom bepaald.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Testen en inspectie

  1. Hoe heet het proces waarbij uit de informatie over op welke uitgang en bij welk patroon een afwijking optrad bij een chip die de scantest niet haalde, logisch een kandidaatlijst van de waarschijnlijke foutlocaties wordt afgeleid?
  2. Welke methode genereert testpatronen door defecten zoals kortsluiting en onderbreking van transistoren binnen een standaardcel te modelleren op basis van de schakeling van de cel?
  3. Welke beschrijving van de wafertest (probetest) is juist?
  4. Wat is het doel van burn-in?
  5. Welke beschrijving van scanontwerp, een vorm van Design for Test (DFT), is juist?