Testen en inspectie

Waarom is bij compressie van de uitgangen van de scantest het verwijderen van signalen waarvan de waarde in de simulatie niet als 0 of 1 vaststaat (onbekende waarde X) noodzakelijk?

  1. AAls een onbekende waarde zich met de gecomprimeerde resultaten vermengt, kan niet met de verwachte waarde worden vergeleken en kunnen fouten niet worden gedetecteerd
  2. BOmdat de chip warm wordt bij onbekende waarden
  3. COmdat de klok stopt bij onbekende waarden
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. Als een onbekende waarde zich met de gecomprimeerde resultaten vermengt, kan niet met de verwachte waarde worden vergeleken en kunnen fouten niet worden gedetecteerd

Onbekende waarden (X), afkomstig van bijvoorbeeld niet-geïnitialiseerd geheugen, analoge schakelingen en grenzen tussen verschillende klokdomeinen, maken de gehele gecomprimeerde waarde onbekend wanneer ze in de compressieschakeling met andere bits worden vermengd, zodat niet meer met de juiste verwachte waarde kan worden vergeleken. Daarom worden X-masking, waarbij de uitgangen van scancellen die X leveren worden geblokkeerd, en ontwerpmaatregelen om X te voorkomen toegepast. Er is geen verband met warmteontwikkeling of het stoppen van de klok.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Testen en inspectie

  1. Welke methode wordt bij de test van snelle seriële communicatie-interfaces gebruikt om de uitgang van de zendschakeling van de chip terug te koppelen naar de ontvangstschakeling, zodat de chip de communicatie zelf controleert?
  2. Hoe heet de methode waarbij op basis van tussentijdse resultaten en statistieken van onder meer de wafertest per chip en per lot de testitems en beoordelingswaarden dynamisch worden gewijzigd?
  3. Wat is het belangrijkste doel van het toepassen van een langzaam veranderend sinussignaal en dergelijke bij de test van een AD-omzetter en het tellen van hoe vaak elke uitgangscode voorkomt (histogram)?
  4. Hoe heet het proces waarbij uit de informatie over op welke uitgang en bij welk patroon een afwijking optrad bij een chip die de scantest niet haalde, logisch een kandidaatlijst van de waarschijnlijke foutlocaties wordt afgeleid?
  5. Welke methode genereert testpatronen door defecten zoals kortsluiting en onderbreking van transistoren binnen een standaardcel te modelleren op basis van de schakeling van de cel?