Hoe heet de methode waarbij op basis van tussentijdse resultaten en statistieken van onder meer de wafertest per chip en per lot de testitems en beoordelingswaarden dynamisch worden gewijzigd?

Antwoord: A. Adaptieve test

Bij adaptieve tests worden op basis van resultaten van eerdere processen of van andere chips op dezelfde wafer en de detectie van statistische uitschieters tests toegevoegd of weggelaten en beoordelingswaarden gewijzigd. Zo wordt PAT (Part Average Testing), dat chips verwijdert waarvan de waarden weliswaar binnen de specificatie liggen maar sterk afwijken van de omringende chips, bij auto's gebruikt om latente defecten te verminderen. Hiermee kan ook de testtijd worden verkort terwijl de kwaliteit behouden blijft.