Test und Prüfung

Was ist der Hauptzweck, beim Speichertest eine Darstellung zu erstellen, die festhält, welches Bit welcher Adresse defekt war?

  1. ADie Speicherkapazität zu erhöhen
  2. BDie Farbe des Chips festzulegen
  3. CAnhand der Fehlerpositionen eine Reparatur durch Ersatz mit redundanten Zeilen und Spalten durchzuführen und sie auch zur Analyse der Fehlerursachen zu nutzen
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Antwort: C. Anhand der Fehlerpositionen eine Reparatur durch Ersatz mit redundanten Zeilen und Spalten durchzuführen und sie auch zur Analyse der Fehlerursachen zu nutzen

Eine Fail-Bit-Map stellt die Positionen defekter Bits entsprechend den Adressen dar. Sie dient zur Berechnung der Redundanzreparatur, bei der defekte Zeilen und Spalten durch Ersatzzeilen und -spalten ersetzt werden, wobei die Reparatur durch Durchtrennen von Fuses mit Laser oder elektrisch erfolgt. Aus dem Muster der Fehler (einzelnes Bit, ganze Zeile, ganze Spalte, Cluster usw.) lässt sich zudem die Art von Defekten im Fertigungsprozess wie Partikel oder Leitbahnkurzschlüsse abschätzen.

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