Hoe heet de techniek waarbij testpatronen in de chip worden uitgebreid en de responsen worden gecomprimeerd om de hoeveelheid scantestdata en de testtijd te verminderen?

Antwoord: A. Testcompressie (scancompressie)

Bij grote LSI's wordt de hoeveelheid patronen van de scantest enorm, waardoor testergeheugen en testtijd een probleem worden. Bij testcompressie wordt een kleine hoeveelheid invoerdata in de chip via een decompressieschakeling over veel korte scanketens verdeeld, en worden ook de uitgangen door een compressieschakeling samengevoegd en vergeleken. Omdat een groot deel van de bits in de patronen een don't-care-waarde heeft, kunnen de datahoeveelheid en de testtijd tot enkele tientallen malen kleiner worden.