Test und Prüfung

Wie heißt die Technik, bei der zur Verringerung von Datenmenge und Testzeit des Scan-Tests Testmuster im Chip entpackt und die Antworten komprimiert werden?

  1. ATestkompression (Scan-Kompression)
  2. BBurn-in
  3. CIDDQ-Test
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Antwort: A. Testkompression (Scan-Kompression)

Bei großen LSIs wird die Musterzahl des Scan-Tests enorm, und Testerspeicher und Testzeit werden zum Problem. Bei der Testkompression werden wenige Eingangsdaten von einer Entpackschaltung im Chip auf viele kurze Scan-Ketten verteilt und die Ausgaben von einer Kompressionsschaltung gesammelt verglichen. Da die meisten Bits der Muster Don't-Care-Werte sind, lassen sich Datenmenge und Testzeit auf einen Bruchteil von einigen zehn und weniger reduzieren.

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