Nederlands
Menu

Testen en inspectie

Hoe heet de test die bij de werkelijke bedrijfsfrequentie wordt uitgevoerd om defecten te detecteren waarbij het signaal te traag wordt doorgegeven?

  1. ADC-test
  2. BUiterlijke inspectie
  3. CAt-speed-test
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: C. At-speed-test

Bij fijne LSI's vormen vertragingsdefecten een probleem, waarbij de schakeling logisch correct werkt maar een klein defect de signaaltijd verlengt. Bij de at-speed-test worden, nadat via scan waarden zijn ingesteld, twee opeenvolgende klokpulsen met de werkelijke bedrijfsfrequentie van de PLL in de chip toegepast, en wordt gecontroleerd of de signaalverandering binnen één periode aankomt. Hierbij worden patronen op basis van vertragingsfoutmodellen, zoals het transitiefoutmodel, gebruikt.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Testen en inspectie

  1. Hoe heet het indelen van producten op basis van testresultaten naar prestaties zoals bedrijfssnelheid en stroomverbruik?
  2. Hoe heet het instellen van beoordelingswaarden die iets strenger zijn dan de productspecificatie, om rekening te houden met meetfouten en veroudering?
  3. Wat wordt bij de ontwikkeling van testprogramma's als juist beschouwd als belangrijk voor het verlagen van de testkosten?
  4. Welke methode is momenteel gangbaar om informatie over in de wafertest als defect beoordeelde chips in latere assemblagestappen te gebruiken?
  5. Wat is de belangrijkste reden om halfgeleiders voor auto's niet alleen bij kamertemperatuur, maar ook bij hoge en lage temperatuur te testen?

Vergelijkingen bij dit onderwerp