Testen en inspectie

Wat wordt bij de ontwikkeling van testprogramma's als juist beschouwd als belangrijk voor het verlagen van de testkosten?

  1. ABinnen het bereik waarin defecten voldoende worden gedetecteerd, de meetitems en de volgorde optimaliseren om de testtijd te verkorten
  2. BAlle items het maximale aantal keren meten
  3. CTests van items met veel defecten weglaten
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. Binnen het bereik waarin defecten voldoende worden gedetecteerd, de meetitems en de volgorde optimaliseren om de testtijd te verkorten

Omdat de testkosten bij benadering evenredig zijn met de testtijd, worden de meetitems beperkt tot wat voor de kwaliteit nodig is en worden de meetvolgorde en -voorwaarden zo gekozen dat de testtijd korter wordt. Zo worden items die gemakkelijk defecten opleveren eerst gemeten zodat de test vroeg kan worden afgebroken, of worden items waarbij op basis van historische data nauwelijks defecten optreden herzien. Het weglaten van items met veel defecten vergroot het aantal gemiste defecten, en alles het maximale aantal keren meten verhoogt de kosten.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Testen en inspectie

  1. Welke methode is momenteel gangbaar om informatie over in de wafertest als defect beoordeelde chips in latere assemblagestappen te gebruiken?
  2. Wat is de belangrijkste reden om halfgeleiders voor auto's niet alleen bij kamertemperatuur, maar ook bij hoge en lage temperatuur te testen?
  3. Welk testpatroon voor geheugens doorloopt de adressen achtereenvolgens, schrijft en leest herhaaldelijk 0 en 1, en detecteert ook defecten zoals interferentie tussen naburige cellen?
  4. Welke beschrijving van ATE (Automatic Test Equipment) is juist?
  5. Hoe heet het verder indrukken van de probenaald nadat deze het elektrodepad heeft geraakt, om een betrouwbaar contact te maken?

Vergelijkingen bij dit onderwerp