Comment appelle-t-on la technique qui décompresse les vecteurs de test dans la puce et compresse les réponses afin de réduire le volume de données et le temps du test par scan ?

Réponse : A. Compression de test (compression de scan)

Dans les grands LSI, le volume de vecteurs de test par scan devient considérable, ce qui pose problème pour la mémoire du testeur et le temps de test. La compression de test distribue un faible volume de données d'entrée sur de nombreuses chaînes de scan courtes via un circuit de décompression intégré, et regroupe également les sorties dans un circuit de compression avant comparaison. Comme la plupart des bits des vecteurs sont indifférents, le volume de données et le temps de test peuvent être réduits d'un facteur de plusieurs dizaines ou davantage.