Welke methode is momenteel gangbaar om informatie over in de wafertest als defect beoordeelde chips in latere assemblagestappen te gebruiken?

Antwoord: B. Doorgeven aan de assemblage als elektronische wafermap

Vroeger werden defecte chips met inkt gemarkeerd, maar tegenwoordig worden de wafertestresultaten als elektronische wafermap opgeslagen en leest de die bonder in de assemblage deze data om uitsluitend goede chips te pakken. Dit voorkomt inktverontreiniging en het drogen ervan, en prestatieklassen kunnen ook worden vastgelegd. De mapdata worden ook gebruikt voor de analyse van de verdeling van defecten.