Oxidatie en diffusie

Wat gebeurt er met de boorconcentratie aan de siliciumzijde nabij het grensvlak bij thermische oxidatie van boorhoudend silicium?

  1. ADeze neemt af, doordat boor gemakkelijk in de oxidefilm wordt opgenomen
  2. BDeze neemt toe, doordat boor naar het grensvlak wordt geduwd
  3. CDeze verandert niet
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. Deze neemt af, doordat boor gemakkelijk in de oxidefilm wordt opgenomen

Op het grensvlak tussen silicium en SiO2 ligt de verhouding van de concentraties aan beide zijden (segregatiecoëfficiënt m = in silicium/in SiO2) vast. Boor wordt met m ≈ 0,3 gemakkelijk in de oxidefilm opgenomen, dus de concentratie aan de siliciumzijde nabij het oppervlak daalt (pile-down). Fosfor en arseen met m ≈ 10 dringen moeilijk in de oxidefilm door en worden naar de siliciumzijde geduwd, zodat de concentratie nabij het grensvlak stijgt (pile-up). Hiermee wordt rekening gehouden bij het ontwerp van de drempelspanning en de kanaalconcentratie.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Oxidatie en diffusie

  1. Hoe heet de warmtebehandeling waarbij wafers één voor één met bijvoorbeeld lampen in enkele seconden kort op hoge temperatuur worden gebracht?
  2. Welke waarde ligt het dichtst bij de relatieve permittiviteit van met thermische oxidatie gevormde SiO2?
  3. Welke is een juiste belangrijke reden dat silicium veel als materiaal voor MOS-componenten is gebruikt?
  4. Welk probleem treedt op als de gate-oxidefilm mobiele ionen zoals natriumionen bevat?
  5. Welke n-type onzuiverheid diffundeert bij warmtebehandeling in silicium relatief langzaam en maakt het gemakkelijk ondiepe overgangen?

Vergelijkingen bij dit onderwerp