테스트와 검사

테스트 용이화 설계(DFT)의 하나인 스캔 설계에 대한 설명으로 올바른 것은?

  1. A칩 표면을 광학 현미경으로 주사하여 결함을 찾는다
  2. B테스트 시 전원 전압을 서서히 올려 동작 한계를 조사한다
  3. C회로 내의 플립플롭을 시프트 레지스터 형태로 연결하여 내부 상태의 설정과 관측을 쉽게 한다
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정답: C. 회로 내의 플립플롭을 시프트 레지스터 형태로 연결하여 내부 상태의 설정과 관측을 쉽게 한다

스캔 설계에서는 각 플립플롭의 입력에 전환용 셀렉터를 붙이고, 테스트 시에는 이들을 줄줄이 연결(스캔 체인)하여 외부에서 임의의 값을 시프트로 설정하고 내부 값을 시프트로 읽어낼 수 있게 합니다. 순차 회로의 테스트가 조합 회로의 테스트로 바뀌기 때문에, ATPG로 높은 고장 검출률의 패턴을 자동 생성할 수 있습니다. 현미경 주사나 전압 스윕과는 별개입니다.

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