Quel phénomène de dégradation voit la valeur absolue de la tension de seuil d'un transistor pMOS augmenter progressivement sous l'application continue d'une tension de grille négative et d'une température élevée ?

Réponse : A. NBTI

La NBTI (Negative Bias Temperature Instability) est une dégradation où la polarisation de grille négative et la température élevée appliquées à un pMOS rompent les liaisons Si-H de l'interface Si/SiO2, augmentant les états d'interface, tandis que des charges positives s'accumulent aussi dans l'isolant : la valeur absolue de la tension de seuil augmente. La vitesse de fonctionnement des circuits diminuant progressivement au fil des années, une marge pour cette dégradation est prévue à la conception. Une récupération partielle après suppression de la contrainte la caractérise aussi.