Welk degradatieverschijnsel is het, waarbij de absolute waarde van de drempelspanning geleidelijk toeneemt als een negatieve gatespanning en hoge temperatuur voortdurend op een pMOS-transistor worden aangelegd?

Antwoord: A. NBTI

NBTI (Negative Bias Temperature Instability) is een degradatie waarbij door een negatieve gatespanning en hoge temperatuur op een pMOS de Si-H-bindingen aan het Si/SiO2-grensvlak breken en grensvlaktoestanden toenemen, en ook positieve lading in de isolerende laag wordt opgeslagen, zodat de absolute waarde van de drempelspanning groter wordt. Omdat de werkingssnelheid van de schakeling over jaren geleidelijk daalt, wordt in het ontwerp rekening gehouden met een marge voor de degradatie. Kenmerkend is ook dat een deel herstelt als de belasting wordt weggenomen.