PN接合の空乏層と逆方向バイアス

PN接合の空乏層と逆方向バイアス 電子 正孔 バイアスなし −,+,−,+ ,,, ,,,, p型 n型 空乏層 逆方向バイアスを大きくしたとき −,+,−,+,−,+,−,+,−,+,−,+ ,, ,,, p型 n型 空乏層が広がる

p型とn型の半導体を接合すると、境界付近で電子と正孔が拡散して再結合し、イオン化したドナーとアクセプタだけが残る空乏層ができます。空乏層の中のイオンの電荷がつくる電位差が内蔵電位で、これがキャリアのそれ以上の拡散を止めています。

逆方向バイアスをかけると接合の電位差が大きくなり、空乏層は広がります。幅は (内蔵電位 + 逆バイアス電圧) の平方根に比例し、両側のイオンの電荷が等しくなるように、濃度の低い側へ大きく広がります。空乏層は電荷を両側に持つコンデンサとして働くので、幅が広がるほど接合容量は小さくなります。

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この図が出てくる問題

  1. PN接合に加える逆方向バイアス電圧を大きくすると、空乏層の幅はどうなるか。

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