Testverfahren, das Scan-Ketten nutzt, die durch serielle Verknüpfung der Flipflops einer Schaltung entstehen, um interne Zustände zu setzen und zu beobachten.
Japanische Bezeichnung: スキャンテスト
Fachgebiet: Test und Inspektion
ATE (automatische Testausrüstung, automatic test equipment) ATPG (automatische Testmustererzeugung) BIST (integrierter Selbsttest) Burn-in (Voralterung) DFT (testgerechter Entwurf) Fehlerabdeckung (Fault Coverage) IDDQ-Test KGD (Known Good Die) Nadelkarte (probe card) Stuck-at-Fehler