在邏輯電路的測試中，判定晶片是否正常的基本方法為下列何者？

正確答案：C. 對輸入施加測試圖樣，並將輸出與正常電路應得到的期望值比較

在邏輯電路的測試中，測試機對晶片施加測試圖樣（輸入訊號的排列），在規定的時序擷取輸出，並與正常電路應得到的期望值比較。只要有一處不一致就判定為不良。期望值由設計資料的模擬求得。僅憑外觀或溫度，無法得知內部邏輯是否正確運作。

• A. 僅看外觀無法得知內部的電氣不良。
• B. 僅憑溫度無法判定功能的良否。
• C. 正確。將輸出與期望值比較來判定。