測試與檢查
在測試中，依序施加於晶片輸入的0與1訊號的排列，以及與之對應的期望值所組成的組合，稱為什麼？
- A配方（recipe）
- B測試圖樣（測試向量）
- C光罩
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正確答案：B. 測試圖樣（測試向量）
測試圖樣（測試向量）是彙整了各時刻施加於晶片輸入的訊號值，以及此時應輸出的期望值。能有效率偵測故障的圖樣，可由ATPG自動產生，或將設計時驗證用的模擬轉換而製成。圖樣越長，測試時間就越長，因此要加以最佳化，使得以較少的圖樣偵測較多的故障。
- A. 配方是指製造設備的處理條件設定。
- B. 正確。是輸入的排列與期望值的組合。
- C. 光罩是用於在曝光時轉印圖樣的原版。