테스트와 검사
논리 회로 테스트에서 칩이 정상인지 판정하는 기본적인 방법은?
- A칩을 현미경으로 바라보기만 한다
- B칩의 온도만 측정한다
- C입력에 테스트 패턴을 가하고, 출력을 정상 회로에서 얻어져야 할 기대값과 비교한다
정답과 해설 보기
정답: C. 입력에 테스트 패턴을 가하고, 출력을 정상 회로에서 얻어져야 할 기대값과 비교한다
논리 회로 테스트에서는 테스터가 테스트 패턴(입력 신호의 나열)을 칩에 가하고, 정해진 타이밍에 출력을 받아들여 정상 회로에서 얻어져야 할 기대값과 비교합니다. 한 곳이라도 일치하지 않으면 불량으로 판정합니다. 기대값은 설계 데이터의 시뮬레이션으로 구합니다. 외관이나 온도만으로는 내부 논리가 올바르게 동작하는지 알 수 없습니다.
- A. 외관을 보는 것만으로는 내부의 전기적 불량을 알 수 없습니다.
- B. 온도만으로는 기능의 양부를 판정할 수 없습니다.
- C. 올바릅니다. 출력을 기대값과 비교하여 판정합니다.